Биткін, С. В. (2019). Експериментально-статистичне моделювання застосування радіаційно-технологічних процесів (РТП) для уповільнення деградації UOL біполярних інтегральних мікросхем (ІМС) у полях іонізуючих випромінювань. Журнал фізики та інженерії поверхні, 3(1), 26 - 36. вилучено із https://periodicals.karazin.ua/pse/article/view/13581