Резистивна поведінка перемикання тонких плівок Si/TiO для застосування електронезалежної пам’яті. East Eur. J. Phys. [інтернет]. 10, Червень 2026 [цит. за 24, Жовтень 2026];(2):275-9. доступний у: https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/29364