Критичний розмір та порогові значення легування, що визначають еволюцію забороненої зони в напівпровідниках. East Eur. J. Phys. [інтернет]. 10, Червень 2026 [цит. за 25, Жовтень 2026];(2):203-11. доступний у: https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/28295