Вплив локального заряду, захопленого в оксидi, на електричнi та ємнiснi характеристики SOI FinFET. East Eur. J. Phys. [інтернет]. 08, Вересень 2025 [цит. за 25, Жовтень 2026];(3):357-64. доступний у: https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/26327