«Резистивна поведінка перемикання тонких плівок Si/TiO для застосування електронезалежної пам’яті». Східно-європейський фізичний журнал, no. 2 (Червень 10, 2026): 275–279. дата звернення Жовтень 24, 2026. https://periodicals.karazin.ua/eejp/article/view/29364.