«Резистивна поведінка перемикання тонких плівок Si/TiO для застосування електронезалежної пам’яті». Східно-європейський фізичний журнал, вип. 2, Червень 2026, с. 275-9, https://doi.org/10.26565/2312-4334-2026-2-29.