«Вплив локального заряду, захопленого в оксидi, на електричнi та ємнiснi характеристики SOI FinFET». Східно-європейський фізичний журнал, вип. 3, Вересень 2025, с. 357-64, https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-3-36.