«Дослідження електронних, пружних, термоелектричних та оптичних властивостей нових напівгейслерових напівпровідників XRhZ (X = V, Nb ТА Z = Si, Ge) методом DFT». Східно-європейський фізичний журнал, вип. 1, Березень 2024, с. 294-07, https://doi.org/10.26565/2312-4334-2024-1-26.