«Визначення структури та аналіз дефектів n-Si, p-Si за допомогою раманівської спектроскопії». Східно-європейський фізичний журнал, вип. 4, Грудень 2023, с. 193-6, https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-4-23.