«Моделювання оптичних та поверхневих властивостей тонких алюмінієвих плівок за допомогою спектроскопічної еліпсометрії», East Eur. J. Phys., вип. 3, с. 319–324, Вер 2026, doi: 10.26565/2312-4334-2026-3-28.