«Аналіз температурно-залежних поверхневих властивостей у системі Ni/SiO2/Si під час електронно-променевого осадження», East Eur. J. Phys., вип. 3, с. 436–441, Вер 2025, doi: 10.26565/2312-4334-2025-3-47.