«Дослідження електронних, пружних, термоелектричних та оптичних властивостей нових напівгейслерових напівпровідників XRhZ (X = V, Nb ТА Z = Si, Ge) методом DFT» (2024) Східно-європейський фізичний журнал, (1), с. 294–307. doi:10.26565/2312-4334-2024-1-26.