«Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування» (2023) Східно-європейський фізичний журнал, (3), с. 363–369. doi:10.26565/2312-4334-2023-3-38.