«Резистивна поведінка перемикання тонких плівок Si/TiO для застосування електронезалежної пам’яті». 2026. Східно-європейський фізичний журнал, вип. 2 (Червень): 275-79. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2026-2-29.