«Вплив локального заряду, захопленого в оксидi, на електричнi та ємнiснi характеристики SOI FinFET». 2025. Східно-європейський фізичний журнал, вип. 3 (Вересень): 357-64. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-3-36.