«Визначення структури та аналіз дефектів n-Si, p-Si за допомогою раманівської спектроскопії». 2023. Східно-європейський фізичний журнал, вип. 4 (Грудень): 193-96. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-4-23.