«Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування». 2023. Східно-європейський фізичний журнал, вип. 3 (Вересень): 363-69. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-3-38.