Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування. (2023). Східно-європейський фізичний журнал, 3, 363-369. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-3-38