Моделювання оптичних та поверхневих властивостей тонких алюмінієвих плівок за допомогою спектроскопічної еліпсометрії. East Eur. J. Phys. 2026, вип. 3, 319-324. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2026-3-28.