2026. Резистивна поведінка перемикання тонких плівок Si/TiO для застосування електронезалежної пам’яті. Східно-європейський фізичний журнал. 2 (Чер 2026), 275–279. DOI:https://doi.org/10.26565/2312-4334-2026-2-29.