[1]
2026. Критичний розмір та порогові значення легування, що визначають еволюцію забороненої зони в напівпровідниках. Східно-європейський фізичний журнал. 2 (Чер 2026), 203–211. DOI:https://doi.org/10.26565/2312-4334-2026-2-21.