2025. Вплив локального заряду, захопленого в оксидi, на електричнi та ємнiснi характеристики SOI FinFET. Східно-європейський фізичний журнал. 3 (Вер 2025), 357–364. DOI:https://doi.org/10.26565/2312-4334-2025-3-36.