2023. Визначення структури та аналіз дефектів n-Si, p-Si за допомогою раманівської спектроскопії. Східно-європейський фізичний журнал. 4 (Груд 2023), 193–196. DOI:https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-4-23.