[1]
2023. Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування. Східно-європейський фізичний журнал. 3 (Вер 2023), 363–369. DOI:https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-3-38.