Х. С. Далієв, Ш. Б. Утамурадова, З. Е. Бахронкулов, А. Х. Хаітбаєв, і Д. Д. Хамдамов, «Визначення структури та аналіз дефектів n-Si<Lu>, p-Si<Lu&gt; за допомогою раманівської спектроскопії», East Eur. J. Phys., вип. 4, с. 193-196, Груд 2023.