1. Далієв Х.С., Утамурадова Ш.Б., Бахронкулов З.Е., Хаітбаєв А.Х., Хамдамов Д.Д. Визначення структури та аналіз дефектів n-Si<Lu>, p-Si<Lu&gt; за допомогою раманівської спектроскопії // Східно-європейський фізичний журнал. 2023. № 4. C. 193-196.