1. Ілієв Х.М., Оджаєв В.Б., Ісамов С.Б., Ісаков Б.О., Ісмайлов Б.К., Аюпов К.С., Хамрокулов Ш.І., Хасанбаева С.О. Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування // Східно-європейський фізичний журнал. 2023. № 3. C. 363-369.