ІЛІЄВ, Х. М.; ОДЖАЄВ, В. Б.; ІСАМОВ, С. Б.; ІСАКОВ, Б. О.; ІСМАЙЛОВ, Б. К.; АЮПОВ, К. С.; ХАМРОКУЛОВ, Ш. І.; ХАСАНБАЕВА, С. О. Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування. Східно-європейський фізичний журнал, n. 3, p. 363-369, 4 Вер 2023.