Далієв, Х. С., Утамурадова, Ш. Б., Бахронкулов, З. Е., Хаітбаєв, А. Х., & Хамдамов, Д. Д. (2023). Визначення структури та аналіз дефектів n-Si<Lu>, p-Si<Lu&gt; за допомогою раманівської спектроскопії. Східно-європейський фізичний журнал, (4), 193-196. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-4-23