Ілієв, Х. М., Оджаєв, В. Б., Ісамов, С. Б., Ісаков, Б. О., Ісмайлов, Б. К., Аюпов, К. С., Хамрокулов, Ш. І., & Хасанбаева, С. О. (2023). Аналіз рентгеновської дифракції та раманівська спектроскопія поверхні Si, збагаченої GaSb, сформованої шляхом застосування методу дифузійного легування. Східно-європейський фізичний журнал, (3), 363-369. https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-3-38