Далієв, Х. С.; Утамурадова, Ш. Б.; Бахронкулов, З. Е.; Хаітбаєв, А. Х.; Хамдамов, Д. Д. Визначення структури та аналіз дефектів N-Si<Lu>, P-Si<Lu&gt; за допомогою раманівської спектроскопії. East Eur. J. Phys. 2023, 193-196.