Далієв, Х.С., Утамурадова, Ш.Б., Бахронкулов, З.Е., Хаітбаєв, А.Х. і Хамдамов, Д.Д. 2023. Визначення структури та аналіз дефектів n-Si<Lu>, p-Si<Lu&gt; за допомогою раманівської спектроскопії. Східно-європейський фізичний журнал. 4 (Груд 2023), 193-196. DOI:https://doi.org/10.26565/2312-4334-2023-4-23.